Mikroskop jonowy pozwala zobaczyć więcej

Nowy typ mikroskopu, opartego na niskoenergetycznej skupionej wiązce jonów (FIB) pozwala widzieć to czego nie widzi, z powodu rozlicznych ograniczeń, skaningowy mikroskop elektronowy. Skonstruowano go w amerykańskim Narodowym Instytucie Standardów i Technologii (NIIST). Źródłem jonów jest w jego przypadku pierwiastek lit.

Nowy jonowy mikroskop jest w tanie wejrzeć w struktury materiałów, które nie przewodzą elektryczności, co dla mikroskopów elektronowych było sporym problemem. Dokładniej też można dzięki niemu poznać rozkład chemiczny w badanej substancji - na zdjęciu widać po lewej obraz lutu cynowo-ołowiowego z FIB a po prawej - ze zwykłego mikroskopu elektronowego. Na razie jednak FIB nie osiąga takiej rozdzielczości jak elektronowe mikroskopy skaningowe czy jonowe urządzenia oparte na helu (HIM).

Mikroskop wykorzystuje nagrodzoną Nagrodą Nobla technikę chłodzenia laserowego. Pary litu schładzane są w pułapce elektromagnetycznej do temperatury 600 mikrokelwinów. Inny laser jonizuje atomy a pole elektryczne przyspiesza i kieruje je na badaną powierzchnię. Energia wiązki wynosi od 500 do 5000 elektronowoltów, czyli jest wielokrotnie mniejsza od poziomu 30000 elektronowoltów typowego dla mikroskopów skaningowych.